Die Kernkompetenz »Analytik und Messtechnik« konzentriert sich auf die anwendungsorientierte Nutzung und Spezialisierung von strukturellen, elektronischen und optischen Messtechniken zur Analyse von Strukturen aus III/V-Verbindungshalbleitern. Sie begleitet die Entwicklung der Epitaxie von komplexen Heterostrukturen sowie die Technologie zur Prozessierung von Hochfrequenztransistoren, integrierten Schaltungen, Halbleiterlasern, Leuchtdioden und Detektoren. Im Bereich der Kernkompetenz »Analytik und Messtechnik« wird auch die Prozessausbeute bestimmt sowie die Lebensdauer und Zuverlässigkeit von Bauelementen untersucht. Die hohe Zuverlässigkeit und Lebensdauer der am Fraunhofer IAF realisierten und spezifizierten Komponenten und Demonstratoren sind die Grundlage für das große Vertrauen von über hundert Partnern allein im Jahr 2010.